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INV : Conférences données à l’invitation du Comité d’organisation dans un congrès national ou international

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  • INV4.1 : C. Longeaud, "Determination of defect states in semiconductors by the modulated photocurrent technique", XXVIII Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada- Sociedad de Fisica do Brasil, 10-14 mai 2005, Santos, SP, Brésil

  • INV4.2 : J. P. Kleider, A. S. Gudovskikh, "Characterization of amorphous/crystalline silicon interfaces from electrical measurements", MRS Spring Meeting, San Francisco, 24-30 Mars 2008.

  • INV4.3 : J. P. Kleider, R. Chouffot, A. S. Gudovskikh, P. Roca i Cabarrocas, M. Labrune, P.-J. Ribeyron, R. Brüggemann, "Characterization of amorphous/crystalline silicon interfaces", E-MRS 2008 Spring Meeting, Strasbourg, 26-31 Mai 2008.