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ACT : Communications avec actes dans un congrès international ou national Communications internationales

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ACT : Communications avec actes dans un congrès international ou national

Communications internationales

  • ACT.3.1.J.-C. Villégier, A. Dégardin, B. Guillet, F. Houzé, A. Kreisler, M. Chaubet, "Fabrication of high-Tc superconducting hot electron bolometers for terahertz mixer applications" SPIE Optoeletronics 2005, San Jose (USA), janvier 2005.

  • ACT.3.2.F. Houzé, D. Mariolle, F. Bertin, P. Chrétien, O. Schneegans, A. Chabli "Caractérisation de profils de dopage par imagerie de résistance locale à faible force", 8ème Forum des Microscopies à Sonde Locale, Anglet (France), mars 2005.

  • ACT.3.3.F. Houzé, J. Alvarez, J.-P. Kleider, P. Bergonzo, E. Snidero, D. Tromson, "Local electrical characterization of Schottky diodes on H-terminated diamond surfaces by conducting probe atomic force microscopy" Diamond’ 2005 (16th European Conference on Diamond, Diamond-Like Materials, Carbon Nanotubes and Nitrides), Toulouse (France), septembre 2005.

  • ACT.3.4.A. Monnier, B. Froidurot, C. Jarrige, R. Meyer, Ph. Testé, "A mechanical, electrical, thermal coupled-field simulation of a sphere-plane electrical contact" 51ième IEEE Holm Conference, Chicago, USA, pp.224-231, Sept. 2005.

  • ACT.3.5.T. Klonowski, R. Andlauer, T. Leblanc, F. Faure, R. Meyer, Ph. Testé, "Experimental study of contact opening under DC voltage for high intensity values" SAP, Lodz, Pologne, 2005.

  • ACT.3.6.S. Noël, D. Alamarguy, N. Lécaudé, O. Schneegans, L.Tristani, "Multi-scale study of the electrical properties of organic layers grafted on gold surfaces ", 51ième IEEE Holm Conference, Chicago, USA, pp.245-254, Sept. 2005.

  • ACT.3.7.S. Noël, N. Lécaudé, D. Alamarguy "Grafting of bifunctional fluorinated polyether molecules on metallic surfaces: application to the protection of electrical contacts", ECASIA 05, 11ième European Conf. On Appl. Of Surf. And Interf. Anal. Vienne, Autriche, Sept. 2005.

  • ACT.3.8.P. Chrétien, F. Houzé, O. Schneegans, R. Meyer, L. Boyer, "Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe AFM in contact mode " Xtip’05 (Workshop on the Coupling of Synchrotron Radiation IR and X-rays with Tip based Scanning Probe Microscopies), Grenoble (France), 16-18 novembre 2005.

  • ACT.3.9.J. Alvarez, F. Houzé, J.-P. Kleider, M. Liao, Y. Koide, "Electrical characterization of Schottky diodes based on boron doped homoepitaxial diamond films by conducting probe atomic force microscopy", E-MRS 2006, Nice (France), juin 2006.

  • ACT.3.10.J. Alvarez, F. Houzé, P. Chrétien, J.-P. Kleider, C. Bazin, M. Liao, Y. Koide," Local photoconductivity on Schottky diamond photodetectors measured by conducting probe atomic force microscopy " Diamond’ 2006 (17th European Conference on Diamond, Diamond-Like Materials, Carbon Nanotubes and Nitrides), Estoril (Portugal), septembre 2006.

  • ACT.3.11.S. Noël, N. Lécaudé, S. Correia, P. Gendre, A. Grosjean, "Electrical and tribological properties of tin plated copper alloy for electrical contact in relation to intermetallic growth", 52ième IEEE Holm Conference, Montreal, Canada, pp.274-280, pp. 1-10, Sept. 2006.

  • ACT.3.12.A. Benedetto, P. Viel, S. Noël, F. Houzé, S. Palacin, "Carbon nanotubes/fluorinated polymers nanocomposite thin films for electrical contacts lubrication", ECOSS’24 (24th European Conference on Surface Science), Paris, sept. 2006.

  • ACT.3.13.F. Ossart, S. Noël, D. Alamarguy, S. Correia, P. Gendre, “Electromechanical modelling of multilayer contacts in electrical connector”, Contact Surface, New Forest, GB, Mai 2007.

  • ACT.3.14.S. Noël, D. Alamarguy, F. Houzé, A. Benedetto, P. Viel, S. Palacin, N. Izard, P. Chenevier, "Nanocomposite thin films for surface protection in electrical contact applications”, 53rd IEEE Holm Conférence, Pittsburg, USA, pp. 160-166, Sept. 2007.

  • ACT.3.15.F. Ossart, S. Noël, N. Lécaudé, S. Correia, P. Gendre, "Electro-mechanical evaluation of multilayer platings for connectors : experiments and modeling", 53rd IEEE Holm Conférence, Pittsburg, USA, pp. 1-8, Sept. 2007.

  • ACT.3.16.A. Benedetto, D. Alamarguy, M. Balog, P. Viel, F. Le Derf, M. Sallé, S. Noël, S. Palacin, "Tribological properties comparison between fluorinated polymethacrylates and fluorinated diazonium salts thin films”, 17th International Vacuum Congress (IVC-17), 13th International Conference on Surface Science (ICSS-13), International Conference on Nanoscience and Technology (ICN+T2007), Stockholm, Suède, Juill. 2007.

  • ACT.3.17.A. Benedetto, M. Balog, P. Viel, F. Le Derf, M. Sallé, S. Noël, S. Palacin, "Study of the formation of hydrophobic surfaces obtained by electrochemical grafting of diazonium salts on gold”, 58 th Annual meeting of the international society of electrochemistry, Banff, Canada, Sept.2007.

  • ACT.3.18.D. Alamarguy, A. Benedetto, M. Balog, S. Noël , P. Viel, F. Le Derf, F. Houzé, M. Sallé, S. Palacin, "Tribological and electrical study of Fluorinated Diazonium Films as dry lubricants for electrical contacts", ECASIA 07, 12th European Conf. on Appl. Surf. and Interf. Anal., Bruxelles, Belgique, Sept. 2007.

  • ACT.3.19.J. Rossignol, Ph. Testé, E. Bourillot, B. Dafonseca, J. Jouhannaud, “Experimental approach of the interaction between a sub-microscopic cathode tip and the plasma” 8th International Conference on Electrical Fuses and Applications, Clermont, Septembre 2007, pp.135-138

  • ACT.3.20.Ph. Testé, J. Rossignol, “Thermic model of the evolution of fragments inside a microscopic spot : a multi scale approach of the plasma/cathode interaction” 8th International Conference on Electrical Fuses and Applications, Clermont, Septembre 2007, pp.145-151

  • ACT.3.21.P. Chrétien, I. Estevez, O. Schneegans, F. Houzé, "The Resiscope module for DC conductivity measurements by AFM : an overview of performances and some various applications", International SPM Usermeeting, Université Autonome de Barcelone, 13-15 mai 2008

  • ACT.3.22.P. Retho, A. Poizat, R. Andlauer, S. de Monicault, R. Meyer "Resistance and contact force measurements on a miniature multi-contact stacking connector", 24 th Int. Conf. on Elec. Contacts ICEC 2008, St Malo, France, pp.189-191 juin 2008.

  • ACT.3.23.S. Correia, S. Noël, D. Alamarguy, P. Gendre, "Microscopic properties of tin intermetallic layers: influence on the performances of electrical contacts", 24 th Int. Conf. on Elec. Contacts ICEC 2008, St Malo, France, pp. 210-215, juin 2008.

  • ACT.3.24.S. Noël, R. Belakdar, D. Alamarguy ,O. Schneegans, G. Boccaletti, "Effect of fluorinated lubricants on the deformation modes of tin electrical contacts submitted to fretting", 24 th Int. Conf. on Elec. Contacts ICEC 2008, St Malo, France, pp.278-283, juin 2008.

  • ACT.3.25.J. Rossignol, Ph. Testé, B. de Fonseca, E. Bourillot, “An experimental investigation of nanostructures on a cathode : influence of these nanotips on electrical contact phenomena”, 24 th Int. Conf. on Elec. Contacts ICEC 2008, St Malo, France, pp. 363-367, juin 2008.

  • ACT.3.26.F. Loëte, S. Noël, R. Meyer, M. Olivas, F. Auzanneau, D. Chandon, “Feasability of the detection of vibration induced faults in connectors by reflectometry”, 24 th Int. Conf. on Elec. Contacts ICEC 2008, St Malo, France, pp. 440-443, juin 2008

  • ACT.3.27.A. Poizat, M. Nsoumbi, Ph. Testé, F. Houzé, R. Andlauer, T. Leblanc "Contribution to the observation of the effective electrical contact area with the help of a space time resolved thermal camera", 24 th Int. Conf. on Elec. Contacts ICEC 2008, St Malo, France, pp.461-466 juin 2008. ACT.3.28.A. Benedetto, D. Alamarguy, P. Viel, S. Noël, S. Palacin, “Conducting and lubricating nanocomposites thin films based on carbon nanotubes and fluorinated poly(methacrylate)”, E-MRS, Strasbourg, France, juin 2008.

  • ACT.3.29.S.Noël, D. Alamarguy, A. Benedetto, P. Viel, “Influence of grafting properties of organic thin films for low level electrical contacts protection”, accepté à 54ieme IEEE Holm Conférence, Orlando, USA, Oct. 2008.

  • ACT.3.30.M. Vincent, L. Chiesi, J.-C. Fourrier, A. Garnier, B. Grappe, C. Lapiere, C. Coutier, A. Samperio, S. Paineau, F. Houzé, S. Noël, Electrical contact reliability in a magnetic MEMS switch, accepté à 54th IEEE Holm Conference, Orlando, USA, oct. 2008.

  • ACT.3.31.D. Alamarguy, S. Noël, A. Benedetto, M. Balog, P. Viel, F. Le Derf, M. Sallé, S. Palacin, O. Schneegans, Etude par AFM à pointe conductrice du comportement mécanique et électrique de films nanométriques greffés. 11èmes Journées de la matière condensée JMC 11, Strasbourg, 25-29 août 2008.

  • ACT.3.32.S. Noël, D. Alamarguy, A. Benedetto, Pascal Viel, Serge Palacin, Mirela Balog, Franck Le Derf, Investigation of the mechanical and electrical properties of nanocomposite thin films by conducting probe AFM, accepté à MRS Fall Meeting, Boston, USA, 2008.

Communications nationales

  • ACT.3.33.T. Klonowski "Etude expérimentale de la coupure de fortes intensités de courant sous une tension continue" JCGE'05, Montpellier, Juin 2005

  • ACT.3.34.O. Schneegans, A. Moradpour, L. Boyer, P. Chrétien "Patterning molecular materials on nanometer scale by conducting probe AFM" Réunion annuelle des utilisateurs d'AFM Nanoscope, Clermont-Ferrand, 3-4 novembre 2005.

  • ACT.3.35.O. Schneegans, F. Houzé, P. Chrétien, "Mesures de capacités plan/plan dans la gamme 1pF-1fF: mise en évidence des effets de bord, proposition d'un modèle et confrontation à des simulations numériques " Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, Gif-sur-Yvette, novembre 2006.

  • ACT.3.36.J. Alvarez, J.-P. Kleider, F. Houzé, P. Chrétien, M. Liao, Y. Koide, " Mesures locales de photoconductivité par AFM à pointe conductrice sur des dispositifs métal-semiconducteur-métal à base de diamant " Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, Gif-sur-Yvette, novembre 2006.

  • ACT.3.37.Ph. Testé, J. Rossignol, «Une tentative de passage d'une vision microscopique du spot cathodique à une approche macroscopique du pied d'arc: un problème multi-échelle», 8ième Colloque sur les Arcs Electriques, CAE VIII. Rouen, Mars 2007

  • ACT.3.38.Ph. Testé, R.Andlauer, T. Leblanc, J. Rossignol, «Observation des traces laissées par un arc électrique sur les surfaces des électrodes. Application à la résolution d'un problème inverse: l'estimation du bilan de puissance aux électrodes», 8ième Colloque sur les Arcs Electriques, CAE VIII, Rouen, Mars 2007

  • ACT.3.39.J. Rossignol, Ph. Testé, E. Bourillot, «Étude expérimentale de l'interaction de pointes cathodiques micrométriques dans un arc électrique», 8ième Colloque sur les Arcs Electriques, CAE VIII, Rouen, Mars 2007